高性能AI芯片对于体系结构、内存总线、外设接口、互联带宽、半导体工艺都有着极高要求。平台AI高速芯片验证实验室全面覆盖了涉及到设计仿真、调试分析及一致性测试模块下的高性能互联测试、高性能存储测试、半导体先进工艺生产测试、电源完整性、电源抗扰度等一系列系统性测试。

AI高速芯片验证实验室重点设施设备一览表
序号设备名称型号参数
1高带宽实时示波器UXR0504A具有4通道50GHz带宽，每通道256GSa/s采样率
支持高速串行信号时钟恢复、眼图分析、抖动和噪声分析
2误码仪M8020A支持PCIe4.0 Rx一致性测试，支持USB3.1 Rx一致性测试
3任意波形发生器M9010A1 GSa/s，14 位，400 MHz 带宽
1 GSa/s，14 位，400 MHz（M9010A内置模块）
4网络分析仪PNAN5242B支持测试双端口差分器件S参数测试，
频率范围10 MHz 至 26.5 GHz
5逻辑分析仪16864A支持DDR3/4/5,PCIE3.0/4.0，I2C等多种协议的分析
6信号源分析仪E5052B射频输入频率范围：10 MHz 至 110 GHz
分析偏移频率范围：1 Hz 至 100 MHz
7矢量信号发生器N5182BLTE、HSPA+、WLAN、GNSS、DVB
8蓝牙/WIFI功能性
测试系统		X8711A制式:BLE 4.2；802.11 b/g/n 2.4GHz接收灵敏度:蓝牙
范围：-40至-75 dBm 刻度：0.5 dB 精度：± 2 dB
9信号分析仪N9041B可分析超过 75 种信号格式的先进分析功能，可以解调物联网
信号如 Lora, NB-IoT 等，以及查看设备的发射性能
10功耗分析系统
(电池使用寿命优化)		X8712A工作频率范围：100MHz 至 2.9 GHz
功率测量范围：-40 至 0 dBm 功率精度： +/- 3 dB
11示波器DSOS254A可测信号带宽大于等于2.5 GHz 支持单端，差分信号测试
测试带宽支持软件升级到大于等于8GHz *4 个模拟通道
12高性能音频分析仪U8903B数字音频接口（AES3/SPDIF 和 DSI）和蓝牙® 音频测量
精度低至 -110 dB
13示波器DSOS104A可测信号带宽大于等于1 GHz
14无线综测仪E6640A5G LTE/LTE-Advanced FDD、LTE/LTE-Advanced TDD
15电流分析仪CX3322A200MHz/1GSa/s采样速度/100pA到10A
16函数发生器81160A330 MHz 脉冲、500 MHz 正弦波、660 Mbit 码型
2.5 GSa/s 采样率和 14 位垂直分辨率
17示波器DSOX3034T350MHz
18示波器DSOX3014T100MHz
19示波器DSOX3024T200MHz
20手持万用表U1242C/
21电源E36311A/
22万用表34450A/

实验室能够实现以下功能：

高速信号质量验证：

UXR0504A 50GHz高带宽实时示波器		实验室配备高带宽实时采样数字示波器，可用于在时域观察高速信号波形质量、对信号进行测试分析。设备搭 载高速逻辑分析系统，能够适用针对大量的信号如高速并行总线进行同时测试，能够对总线进行眼图扫描和分 析、观察总线及每个通道的眼图质量，能够支持AI接口如PCIe4.0/DDR4及其它高速SerDes等测试分析，包括波形参数测量、波形眼图测试，抖动测试，一致性测试。
高速接口容限测试
高速接口的接收性能涉及到系统互联和可操作问题，非常关键。对于高速数字通信系统来说，系统在恶劣环境下接收信号的能力是衡量系统可靠性的关键指 标。在高速接口中一个关键步骤是进行接收压力测试，也模拟在系统恶劣环境下对接收端性能测试，定量反映出数字传输系统接收恶劣信号的能力。
恶劣环境下接收信号的能力是衡量数字通信系统可靠性的关键指标。
用到误码仪进行测试衡量接收恶劣信号能力。
M8020A 64G Baud PAM4误码仪
AI高性能芯片电源完整性测试

DSOS254A 2.5G带宽示波器
E5052B 信号源分析仪
高性能AI芯片或者用于终端判决的芯片对于功耗及半导体制造工艺都有严格的要求。在高速电路的电源系统中，对电源供电的研发设计要求电压更低、对纹波要求更小。为电子产品中的器件和电路提供“纯净”电源，需要在现代产品的配电网络 (PDN)设计上投入了大量的时间、人力和设备。因而精确高效的电源完整性测试十分有必要，能够发现、确认和解决电路故障问题。
AI芯片功耗分析系统

X8712A 功耗分析系统		电池寿命是设计物联网AI设备的一个关键研发问题。本实验室测试分析功能能够准确地测量电池寿命，并能够识别导致功耗的关键事件，并进行设计更改以优化电池寿命。
高速互联通道分析

N5242B PNA-X  微波网络分析仪
M9010A PXIe 任意波形发生器
高速PCB、连接器、背板、电缆等是承载高性能AI芯片互联的基础。对于这些非常高速的PCB、连接器、电缆，甚至芯片封装来说，由于制作工艺及综合设计等原因，可能会造成实物与仿真期望的不符。实验室针对信号完整性的应用，专门推出了基于TDR/TDT（时域反射/时域传输）以及矢量网络分析仪（VNA） 的物理层测试系统（ Physical Layer Test System– PLTS）
AI智慧物联网性能分析

X8711A 蓝牙/WIFI分析系统
N9041B UXA 110G 信号分析仪
人工智能离不开大数据的获取，随着智能设备及物联网技术的深化应用，所有的物联网设备之间都必须随时随地保持无线连通性，这种连通性必须没有任何间隙、安全可靠，并能同时提供高质量的语音和数据业务。实验室专门应对IoT和5G等新兴无线通信技术的发展，持续地跟踪各种无线通信技术的发展和持续标准演进，提供各类物联网信号和无线标准的的硬件和软件测试解决方案，测试能够涵盖各种的无线通信制式并快速升级跟踪最新测试需求。
高速存储总线性能分析
内存总线的可靠性和效率对于AI芯片至关重要。由于DDR的总线宽度很宽，且DDR4的数据速率更是达到3.2GT/s以上，为了能够对这么多根线上的数据进行同时捕获以进行协议分析，实验室配备了高效能的逻辑分析仪，以及解码软件和协议一致性测试软件。主要用于总线的协议分析和调试，还可以使用协议检查工具，通过对逻辑分析仪捕获的数据进行分析和统计，快速检查总线上是否有协议错误。
16864A 2.8Gbps DDR4/5 逻辑分析仪

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